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GB/T 20726-2015
GB/T 20726-2015 Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
简介
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪（EDS）特性最重要的性能参数。本标准仅适用于基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程，在ISO 22309［2］和 ASTM E1508［3］中已有规范，不在本标准范围之内。
通用商品信息
| 委员会 | 全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 被代替 |
| 标准编号 | GB/T 20726-2015 |
| CCS | 基础标准与通用方法 |
| ICS | 有关分析化学的其他标准 |
| 实施日期 | 2016-09-01 |
价格
$ 47
小计
$ 47
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 47