MT/T 707-1997
现行
GB/T 20726-2015
被代替
国家标准
GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
GB/T 20726-2015 Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
基本信息
标准编号:
GB/T 20726-2015
标准类型:
国家级标准
标准状态:
被代替
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
基础标准与通用方法
国际标准分类名称:
有关分析化学的其他标准
发布日期:
2015-10-09
实施日期:
2016-09-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
页数:
16 页
适用范围
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪（EDS）特性最重要的性能参数。本标准仅适用于基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程，在ISO 22309［2］和 ASTM E1508［3］中已有规范，不在本标准范围之内。
研制信息
起草单位:
中国科学院地质与地球物理研究所
起草人:
曾荣树、徐文东、毛骞、马玉光
替代以下标准
被以下标准替代
引用标准
ISO 23833
采用标准
ISO 15632:2012