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GB/T 29508-2013 现行

GB/T 29508-2013 300 mm monocrystalline silicon as cut slices and grinded slices

可用格式
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语言
中文版
发布日期
2013-05-09
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

简介

本标准规定了直径300 mm、p型、<100>晶向、电阻率0.5Ω·cm~20Ω·cm的硅单晶切割片和磨削片(简称硅片)产品的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存等。
本标准适用于直径300 mm直拉单晶经切割、磨削制备的圆形硅片,产品将进一步加工成抛光片,用于制作集成电路IC用线宽90nm技术需求的衬底片。

通用商品信息

委员会 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
文献类型 国家标准
发布单位 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
标准状态 现行
标准编号 GB/T 29508-2013
CCS 元素半导体材料
ICS 半导体材料
实施日期 2014-02-01
价格 $ 50
小计 $ 50
税费 $ 0.00
订单总额(含税) $ 50

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