PDF
YS/T 24-2016 现行
YS/T 24-2016 Test methods for spike of epitaxial layers
简介
本标准规定了外延钉缺陷的检验方法。
本标准适用于判断硅外延片上是否存在高度不小于4 mm的钉缺陷。如果钉缺陷数量比较少且彼此不相连，可对钉缺陷进行计数。本标准不能测量钉缺陷的高度。
通用商品信息
| 委员会 | 全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243) |
|---|---|
| 文献类型 | 行业标准-有色金属 |
| 发布单位 | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | YS/T 24-2016 |
| CCS | 金属物理性能试验方法 |
| ICS | 金属材料试验 |
| 实施日期 | 2016-09-01 |
价格
$ 29
小计
$ 29
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 29