YS/T 24-2016 现行 行业标准-有色金属

YS/T 24-2016 外延钉缺陷的检验方法

YS/T 24-2016 Test methods for spike of epitaxial layers

发布日期: 2016-04-05 实施日期: 2016-09-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们

基本信息

标准编号: YS/T 24-2016
标准类型: 行业标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 金属物理性能试验方法
国际标准分类名称: 金属材料试验
发布日期: 2016-04-05
实施日期: 2016-09-01
发布单位/组织: 中华人民共和国工业和信息化部
归口单位: 全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
页数: 5 页

适用范围

本标准规定了外延钉缺陷的检验方法。
本标准适用于判断硅外延片上是否存在高度不小于4 mm的钉缺陷。如果钉缺陷数量比较少且彼此不相连,可对钉缺陷进行计数。本标准不能测量钉缺陷的高度。

研制信息

起草单位:

南京国盛电子有限公司、有研半导体材料有限公司、上海晶盟硅材料有限公司

起草人:

马林宝、杨帆、孙燕、徐新华

字数: 9 千字 页数: 5 页

替代以下标准

引用标准

相关标准

联系我们