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GB/T 30859-2014 现行
GB/T 30859-2014 Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells
简介
本标准规定了太阳能电池用硅片（以下简称硅片）翘曲度和波纹度的测试方法。
本标准适用于硅片翘曲度和波纹度的测试。
通用商品信息
| 委员会 | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 30859-2014 |
| CCS | 金属物理性能试验方法 |
| ICS | 金属材料试验 |
| 实施日期 | 2015-04-01 |
价格
$ 54
小计
$ 54
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 54