PDF
GB/T 14142-1993
GB/T 14142-1993 Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon by etching techniques
通用商品信息
| 文献类型 | 国家标准 |
|---|---|
| 发布单位 | 国家技术监督局 |
| 标准状态 | 被代替 |
| 标准编号 | GB/T 14142-1993 |
| CCS | 金属无损检验方法 |
| ICS | 半导体材料 |
| 实施日期 | 1993-10-01 |
价格
$ 36
小计
$ 36
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 36