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T/ZSA 231-2024 现行
T/ZSA 231-2024 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
简介
本文件规定了利用双晶X射线衍射仪测试氧化镓单晶片摇摆曲线及其半高宽的方法。 本文件适用于熔体法及其他方法生长的和定向切割晶锭制备的氧化镓单晶片，对前述单晶片进行化学或机械抛光后的样品同样适用于此方法。 本文件适用于β相氧化镓单晶。
通用商品信息
| 文献类型 | 团体标准 |
|---|---|
| 发布单位 | 中关村标准化协会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/ZSA 231-2024 |
| 实施日期 | 1970-01-01 |
价格
$ 29.00
小计
$ 29.00
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 29.00