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GB/T 23414-2009
GB/T 23414-2009 Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Vocabulary
简介
本标准定义了扫描电子显微术（SEM）实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语，也包括已经在ISO 23833中定义的术语。
本标准适用于所有有关SEM实践的标准化文件。另外，本标准的某些术语定义，也适用于相关领域的文件〔例如：电子探针显微分析（EPMA）、分析电子显微术（AEM）、能谱法（EDX）等〕。
通用商品信息
| 委员会 | 全国微束分析标准化技术委员会 |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 被代替 |
| 标准编号 | GB/T 23414-2009 |
| CCS | 电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS | 成像技术 (词汇) |
| 实施日期 | 2009-12-01 |
价格
$ 81
小计
$ 81
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 81