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GB/T 46717-2025 现行
GB/T 46717-2025 半导体器件 金属化空洞应力试验
简介
本文件描述了铝（Al)或铜（Cu)金属化空洞应力试验方法及相关判据。
本文件适用于半导体工艺的可靠性研究和鉴定。
通用商品信息
| 委员会 | 全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 46717-2025 |
| CCS | 半导体分立器件 |
| ICS | 半导体器分立件综合 |
| 实施日期 | 2026-05-01 |
价格
$ 44.00
小计
$ 44.00
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 44.00