GB/T 5295-1985
被代替
GB/T 36356-2018
现行
国家标准
GB/T 36356-2018 功率半导体发光二极管芯片技术规范
GB/T 36356-2018 Technical specification for power light-emitting diode chips
基本信息
标准编号:
GB/T 36356-2018
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体发光器件
国际标准分类名称:
光电子学、激光设备
发布日期:
2018-06-07
实施日期:
2019-01-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
中华人民共和国工业和信息化部(电子)
页数:
17 页
适用范围
本标准规定了功率半导体发光二极管芯片产品(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则、包装、运输和储存等。
本标准适用于功率半导体发光二极管芯片。
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所、国家半导体器件质量监督检验中心、中国电子技术标准化研究院、厦门市三安光电科技有限公司
起草人:
张瑞霞、赵敏、黄杰、赵英、刘秀娟、蔡伟智、彭浩、刘东月、张晨朝
引用标准
GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热(12h+12h循环)
GB/T 2423.15-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ga和导则:稳态加速度
GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化
GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分:总则
SJ/T 11394-2009
IEC 60749(所有部分)
IEC 60749-19:2010
IEC 60749-22:2002
SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法