GB/T 6570-1986
废止
GB/T 4937.1-2006
现行
国家标准
GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则
GB/T 4937.1-2006 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 1:General
基本信息
标准编号:
GB/T 4937.1-2006
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
二极管
发布日期:
2006-08-23
实施日期:
2007-02-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会
页数:
6 页
适用范围
本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。 当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:
陈海蓉、崔波
同系列标准
替代以下标准
引用标准
IEC 60050(所有部分)
IEC 60747(所有部分)
IEC 60748(所有部分)
采用标准
IEC 60749-1:2002