GB/T 4855-1984
废止
T/JSSIA 0001-2024
现行
团体标准
T/JSSIA 0001-2024 光敏介质薄膜与互连金属界面结合力的评价方法
T/JSSIA 0001-2024 Evaluation method for interface bonding force between photoconductive medium thin film and interconnect metal interface
价格:
$ 20.00
基本信息
标准编号:
T/JSSIA 0001-2024
标准类型:
团体标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
微电路
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
2024-06-05
实施日期:
2024-06-10
归口单位:
江苏省半导体行业协会
页数:
10 页
适用范围
范围:适用于晶圆/板级扇出型封装、晶圆级封装中光敏介质薄膜与互连金属界面结合力及光敏薄膜与薄膜材料界面的评价; 主要技术内容:本文件规定了晶圆/板级扇出型封装、晶圆级封装中光敏介质薄膜与互连金属界面结合力的试验方法，包括试验样件、试验设备、界面测试方法、测试结果分析方法、典型失效模式等
研制信息
起草单位:
华进半导体封装先导技术研发中心有限公司、中国科学院微电子研究所、工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所、通富微电子股份有限公司、苏州晶方半导体科技股份有限公司、华天科技（昆山）电子有限公司、国家集成电路封测产业链技术创新战略联盟
起草人:
曹立强、王启东、孙鹏、苏梅英、赵静毅、陈思、吉勇、帅喆、李晨、孙向楠、王琦