GB/T 14264-1993
被代替
GB/T 4937.3-2012
现行
国家标准
GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
GB/T 4937.3-2012 Semiconductor devices—Mechanical and climatic tests methods—Part 3:External visual examination
基本信息
标准编号:
GB/T 4937.3-2012
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2012-11-05
实施日期:
2013-02-15
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
5 页
适用范围
GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验，适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:
陈海蓉、李丽霞、崔波
同系列标准
采用标准
IEC 60749-3:2002