GB/T 14264-1993
被代替
GB/T 4937.4-2012
现行
国家标准
GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验(HAST)
GB/T 4937.4-2012 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 4:Damp heat,steady state,highly accelerated stress test(HAST)
基本信息
标准编号:
GB/T 4937.4-2012
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2012-11-05
实施日期:
2013-02-15
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
7 页
适用范围
GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验（HAST）方法，用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:
李丽霞、陈海蓉、崔波
同系列标准
采用标准
IEC 60749-4:2002