GB/T 6570-1986
废止
GB/T 4937.2-2006
现行
国家标准
GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压
GB/T 4937.2-2006 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 2:Low air pressure
基本信息
标准编号:
GB/T 4937.2-2006
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
二极管
发布日期:
2006-08-23
实施日期:
2007-02-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会
页数:
6 页
适用范围
本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力，而这种失效是由于气压减小时，空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1 000 V的器件。 本项试验适用于所有的空封半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:
崔波、陈海蓉
同系列标准
替代以下标准
引用标准
IEC 60068-2-13
采用标准
IEC 60749-2:2002