GB/T 6429-1986
现行
GB/T 30118-2013
现行
国家标准
GB/T 30118-2013 声表面波(SAW)器件用单晶晶片 规范与测量方法
GB/T 30118-2013 Single crystal wafers for surface acoustic wave(SAW) device applications—Specifications and measuring methods
基本信息
标准编号:
GB/T 30118-2013
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
石英晶体、压电元件
国际标准分类名称:
频率控制和选择用压电器件与介质器件
发布日期:
2013-12-17
实施日期:
2014-05-15
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC 182)
页数:
31 页
适用范围
本标准规定了人造石英、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片等。
本标准适用于人造石英、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)滤波器和谐振器等基片材料。
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团第二十六研究所、中国电子科技集团德清华莹电子有限公司、北京石晶光电科技有限公司
起草人:
张小梅、蒋春健、吴兆刚、吴剑波、赵雄章、周洋舟
引用标准
GB/T 2828.1-2003 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T 3352-1994 人造石英晶体
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GB/T 3505-2009 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 术语、定义及表面结构参数
GB/T 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法
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采用标准
IEC 62276:2005