GB/T 14264-1993
被代替
GB/T 4937.32-2023
现行
国家标准
GB/T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分：塑封器件的易燃性(外部引起的)
GB/T 4937.32-2023 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 32:Flammability of platic-encapsulated devices(externally induced)
基本信息
标准编号:
GB/T 4937.32-2023
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2023-05-23
实施日期:
2023-12-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
6 页
适用范围
本文件适用于半导体器件（分立器件和集成电路），以下简称器件。
本文件用于确定器件是否由于外部发热造成燃烧。本试验使用针焰，模拟内部装有元器件的设备在故障条件下可能引起的小火焰的影响。
注：除了本章增加的内容以及第2章和第4章增加了标题并重新编号外，本试验方法与IEC 60749（1996）第4章1.2的试验方法一致。
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、合肥联诺科技股份有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司
起草人:
裴选、张魁、黄纪业、席善斌、彭浩、魏兵、林瑜攀、颜天宝
同系列标准
引用标准
采用标准
IEC 60749-32:2010