GB/T 14264-1993
被代替
GB/T 4937.9-2026
即将实施
国家标准
GB/T 4937.9-2026 半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性
GB/T 4937.9-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 9:Permanence of marking
基本信息
标准编号:
GB/T 4937.9-2026
标准类型:
国家级标准
标准状态:
即将实施
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2026-02-27
实施日期:
2026-09-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
12 页
适用范围
本文件的目的是确定固态半导体器件上的标志,在涂抹和去除标签、或使用溶剂和清洗液(通常用于去除印刷电路板制造过程中的焊剂残留)后是否仍清晰。
本文件适用于所有封装类型,用于鉴定和/或工艺监控。本试验是非破坏性的,电气或机械损伤能作为本试验的判据。
注1:本试验不适用于激光打标。
许多可用的溶剂或活性不够,或管控严格,或在直接接触或吸入烟雾时对人类有危险。
注2:相较常用的涂料和标志,本试验中使用的溶剂成分被认为是典型和具有代表性的。
研制信息
起草单位:
中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、河北北芯半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所
起草人:
王琪、李博、高见头、张娜、马睿彤、席善斌、虞勇坚、尹丽晶、吕栋
同系列标准
采用标准
IEC 60749-9:2017