GB/T 14264-1993
Replaced
GB/T 4937.9-2026
Pending
National standards
GB/T 4937.9-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 9:Permanence of marking
GB/T 4937.9-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 9:Permanence of marking
Basic Information
Standard Code:
GB/T 4937.9-2026
Standard Type:
National standards
Standard Status:
Pending
is_force_gb:
no
CCS Name:
Semiconductor discrete devices
ICS Name:
Integrated Components of Semiconductor Devices
Publish Date:
2026-02-27
Implement Date:
2026-09-01
Publisher:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Technical Committee:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Pages:
12 pages
Scope
本文件的目的是确定固态半导体器件上的标志,在涂抹和去除标签、或使用溶剂和清洗液(通常用于去除印刷电路板制造过程中的焊剂残留)后是否仍清晰。
本文件适用于所有封装类型,用于鉴定和/或工艺监控。本试验是非破坏性的,电气或机械损伤能作为本试验的判据。
注1:本试验不适用于激光打标。
许多可用的溶剂或活性不够,或管控严格,或在直接接触或吸入烟雾时对人类有危险。
注2:相较常用的涂料和标志,本试验中使用的溶剂成分被认为是典型和具有代表性的。
Development Information
Drafting Units:
中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、河北北芯半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所
Drafting Persons:
王琪、李博、高见头、张娜、马睿彤、席善斌、虞勇坚、尹丽晶、吕栋
Same series standard
GB/T 4937.28-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climate test methods—Part 28:Electrostatic discharge(ESD)sensitivity testing—Charged device model(CDM)—device level
GB/T 4937.41-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41:Test method for reliability of non-volatile memory devices
Adopt standards
IEC 60749-9:2017
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