GB/T 4937.9-2026 Pending National standards

GB/T 4937.9-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 9:Permanence of marking

GB/T 4937.9-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 9:Permanence of marking

Publish Date: 2026-02-27 Implement Date: 2026-09-01 For services related to genuine standard inquiry, procurement, translation, and other related services in China, please Contact Us

Basic Information

Standard Code: GB/T 4937.9-2026
Standard Type: National standards
Standard Status: Pending
is_force_gb: no
CCS Name: Semiconductor discrete devices
ICS Name: Integrated Components of Semiconductor Devices
Publish Date: 2026-02-27
Implement Date: 2026-09-01
Publisher: 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Technical Committee: 全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Pages: 12 pages

Scope

本文件的目的是确定固态半导体器件上的标志,在涂抹和去除标签、或使用溶剂和清洗液(通常用于去除印刷电路板制造过程中的焊剂残留)后是否仍清晰。
本文件适用于所有封装类型,用于鉴定和/或工艺监控。本试验是非破坏性的,电气或机械损伤能作为本试验的判据。
注1:本试验不适用于激光打标。
许多可用的溶剂或活性不够,或管控严格,或在直接接触或吸入烟雾时对人类有危险。
注2:相较常用的涂料和标志,本试验中使用的溶剂成分被认为是典型和具有代表性的。

Development Information

Drafting Units:

中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、河北北芯半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所

Drafting Persons:

王琪、李博、高见头、张娜、马睿彤、席善斌、虞勇坚、尹丽晶、吕栋

Word Count: 15 Thousand words Pages: 12 pages

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IEC 60749-9:2017

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