GB/T 47239.8-2026 现行 国家标准

GB/T 47239.8-2026 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法

GB/T 47239.8-2026 Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 8:Test method for stretchability,flexibility and stability of flexible resistive memory

发布日期: 2026-02-27 实施日期: 2026-09-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们
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基本信息

标准编号: GB/T 47239.8-2026
标准类型: 国家级标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 微电路
国际标准分类名称: 其他半导体分立器件
发布日期: 2026-02-27
实施日期: 2026-09-01
发布单位/组织: 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位: 全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数: 16 页

适用范围

本文件描述了用于评价柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性的术语和测试方法,包括试验流程和所用设备。本文件还包括环境温度和相对湿度等测试条件的通用要求。本文件中描述的测试方法侧重于评价稳定性,而不是可靠性。

研制信息

起草单位:

上海复旦微电子集团股份有限公司、复旦大学、之江实验室、中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人:

沈磊、孙建军、俞剑、刘山佳、王明、时拓、崔波、陈海蓉、张丽静

字数: 23 千字 页数: 16 页

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采用标准

IEC 62951-8:202

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