GB/T 4298-1984
废止
GB/T 47239.9-2026
现行
国家标准
GB/T 47239.9-2026 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分：一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法
GB/T 47239.9-2026 Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 9:Performance testing methods of one transistor and one resistor(1T1R) resistive memory cells
价格:
$ 49.00
基本信息
标准编号:
GB/T 47239.9-2026
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
微电路
国际标准分类名称:
其他半导体分立器件
发布日期:
2026-02-27
实施日期:
2026-09-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
20 页
适用范围
本文件描述了一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元的性能测试方法。本文件中的性能测试方法所测试的性能包括读、电预处理、置位、复位、耐久性和保持性。
本文件适用于柔性和刚性电阻存储器件，且不受器件的工艺和尺寸限制。
研制信息
起草单位:
上海复旦微电子集团股份有限公司、之江实验室、复旦大学、中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:
沈磊、孙建军、俞剑、刘山佳、时拓、周睿晰、刘津畅、王明、崔波、陈海蓉、张丽静
同系列标准
采用标准
IEC 62951-9:2022