GB/T 1663-2001
现行
GB/T 43088-2023
现行
国家标准
GB/T 43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
GB/T 43088-2023 Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals
基本信息
标准编号:
GB/T 43088-2023
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
基础标准与通用方法
国际标准分类名称:
物理化学分析方法
发布日期:
2023-09-07
实施日期:
2024-04-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
页数:
24 页
适用范围
本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。本文件适用于测定晶粒内不高于1×1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。
研制信息
起草单位:
首钢集团有限公司、国标(北京)检验认证有限公司
起草人:
孟杨、鞠新华、朱国森、付新、马通达、崔桂彬、史学星、闫贺、王泽鹏、王雅晴、严春莲
引用标准
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