GB/T 15678-1995
Replaced
GB/T 17473-2025
Active
National standards
GB/T 17473-2025 Performance test method for electronic pastes—Conductor pastes test
GB/T 17473-2025 Performance test method for electronic pastes—Conductor pastes test
Basic Information
Standard Code:
GB/T 17473-2025
Standard Type:
National standards
Standard Status:
Active
is_force_gb:
no
CCS Name:
Precious metals and their alloys
ICS Name:
Other non-ferrous metal products
Publish Date:
2025-10-05
Implement Date:
2026-05-01
Publisher:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Technical Committee:
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
Pages:
24 pages
Scope
本文件描述了电子浆料中导体浆料性能试验方法，包括细度、黏度、密度、固体含量、挥发性有机化合物（VOCs）含量、分辨率、方阻、附着力、可焊性及耐焊性、键合拉力的测定。
本文件适用于导体浆料中各种烧结型导体浆料和固化型导体浆料性能的测定。
Development Information
Drafting Units:
贵研电子材料(云南)有限公司、西安宏星电子浆料科技股份有限公司、有研亿金新材料有限公司、金川集团股份有限公司、中国振华集团云科电子有限公司、西北有色金属研究院、有研纳微新材料(北京)有限公司、云南省贵金属新材料控股集团股份有限公司、东方电气洁能科技成都有限公司、云南贵金属实验室有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、南京市产品质量监督检验院(南京市质量发展与先进技术应用研究院)、山东招金贵金属科技有限公司、山东有研国晶辉新材料有限公司、横峰县贵金属产业技术研究院
Drafting Persons:
幸七四、梁诗宇、张晓杰、赵莹、关俊卿、银玲、方亮、李玮、姚志强、王珂、向磊、赵盘巢、刘萍、高瑞峰、罗慧、李燕华、李晨昊、张映苹、朱国梅、樊明娜、陈开茶、普鹏屹、李俊鹏、刘继松、朱武勋、吴高鹏、张建益、谢强、郑晶、雷驰、何金江、霍文生、吴海梅、王建伟、冯桂坤、贺昕、王翀
Replace the following standards
GB/T 17473.1-2008 Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of solids content
GB/T 17473.2-2008 Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of fineness
GB/T 17473.3-2008 Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of sheet resistance
GB/T 17473.4-2008 Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of adhesion
GB/T 17473.5-2008 Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of viscosity
GB/T 17473.6-2008 Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of resolution
GB/T 17473.7-2022 Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Part 7:Determination of solderability and solder leaching resistance
Referenced Standards
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