GB/T 8760-2020 Active National standards

GB/T 8760-2020 Test method for dislocation density of monocrystal gallium arsenide

GB/T 8760-2020 Test method for dislocation density of monocrystal gallium arsenide

Publish Date: 2020-09-29 Implement Date: 2021-08-01 For services related to genuine standard inquiry, procurement, translation, and other related services in China, please Contact Us

Basic Information

Standard Code: GB/T 8760-2020
Standard Type: National standards
Standard Status: Active
is_force_gb: no
CCS Name: \nTest methods for the physical properties of metals
ICS Name: \nMetal material testing
Publish Date: 2020-09-29
Implement Date: 2021-08-01
Publisher: 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Technical Committee: 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
Pages: 8 pages

Scope

本标准规定了砷化镓单晶位错密度的测试方法。
本标准适用于{100}、{111}面砷化镓单晶位错密度的测试,测试范围为0 cm-2~100 000 cm-2。

Development Information

Drafting Units:

有研光电新材料有限责任公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、国合通用测试评价认证股份公司、中国电子科技集团第四十六研究所、广东先导稀材股份有限公司、雅波拓(福建)新材料有限公司

Drafting Persons:

赵敬平、林泉、于洪国、惠峰、刘淑凤、姚康、许所成、许兴、马英俊、王彤涵、赵素晓、韦圣林、陈晶晶、付萍

Word Count: 16 Thousand words Pages: 8 pages

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