GB/T 14264-1993
被代替
GB/T 4937.30-2018
现行
国家标准
GB/T 4937.30-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
GB/T 4937.30-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30:Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
基本信息
标准编号:
GB/T 4937.30-2018
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2018-09-17
实施日期:
2019-01-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
9 页
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所、深圳市标准技术研究院
起草人:
裴选、彭浩、高瑞鑫、高金环、刘玮
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引用标准
GB/T 4937.20-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分：塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响
IEC 60749-4
IEC 60749-5
IEC 60749-11
IEC 60749-24
IEC 60749-25:2003
IEC 60749-33
采用标准
IEC 60749-30:2011