GB/T 14264-1993
被代替
GB/T 4937.12-2018
现行
国家标准
GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
GB/T 4937.12-2018 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12:Vibration,variable frequency
基本信息
标准编号:
GB/T 4937.12-2018
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2018-09-17
实施日期:
2019-01-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
5 页
适用范围
GB/T 4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:
迟雷、彭浩、岳振鹏、李树杰、崔波、高金环、裴选、张艳杰
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引用标准
采用标准
IEC 60749-12:2002