GB/T 19921-2005 被代替 国家标准

GB/T 19921-2005 硅抛光片表面颗粒测试方法

GB/T 19921-2005 Test method of particles on silicon wafer surfaces

发布日期: 2005-09-19 实施日期: 2006-04-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们

基本信息

标准编号: GB/T 19921-2005
标准类型: 国家级标准
标准状态: 被代替
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 半金属及半导体材料分析方法
国际标准分类名称: 金属材料试验综合
发布日期: 2005-09-19
实施日期: 2006-04-01
发布单位/组织: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位: 全国有色金属标准化技术委员会
页数: 10 页

研制信息

起草单位:

北京有色金属研究总院

起草人:

孙燕、卢立延、董慧燕、刘红艳、翟富义

字数: 16 千字 页数: 10 页

被以下标准替代

引用标准

ASTM F1620-96 ASTM F 1621-96 SEMI M1-0302

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