GB/T 14140.1-1993
被代替
GB/T 1553-1997
被代替
国家标准
GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
GB/T 1553-1997 Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
基本信息
标准编号:
GB/T 1553-1997
标准类型:
国家级标准
标准状态:
被代替
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
金属物理性能试验方法
国际标准分类名称:
金属材料试验综合
发布日期:
1997-06-03
实施日期:
1997-12-01
发布单位/组织:
国家技术监督局
归口单位:
中国有色金属工业总公司标准计量研究所
页数:
20 页
研制信息
起草单位:
峨嵋半导体材料厂
起草人:
吴道荣、刘文魁、尹建华、吴福立
替代以下标准
GB 1553-1979
GB 5257-1985
被以下标准替代
引用标准
采用标准
ASTM F28:1990