GB/T 14140.2-1993
被代替
GB/T 14140.1-1993
被代替
国家标准
GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法
GB/T 14140.1-1993 Silicon slices and wafers—Measuring of diameter—Optical projecting method
基本信息
标准编号:
GB/T 14140.1-1993
标准类型:
国家级标准
标准状态:
被代替
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
金属物理性能试验方法
国际标准分类名称:
金属材料试验综合
发布日期:
1993-02-06
实施日期:
1993-10-01
发布单位/组织:
国家技术监督局
页数:
5 页
研制信息
起草单位:
洛阳单晶硅厂
起草人:
王从赞、夏光勤
同系列标准
被以下标准替代
引用标准
GB/T 2828.1-2003 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T 2828.2-2008 计数抽样检验程序 第2部分：按极限质量(LQ)检索的孤立批检验抽样方案
GB/T 2828.3-2008 计数抽样检验程序 第3部分：跳批抽样程序
GB/T 2828.4-2008 计数抽样检验程序 第4部分：声称质量水平的评定程序
GB/T 2828.5-2011 计数抽样检验程序 第5部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批序贯抽样检验系统
GB/T 2828.10-2010 计数抽样检验程序 第10部分：GB/T 2828计数抽样检验系列标准导则
GB/T 2828.11-2008 计数抽样检验程序 第11部分：小总体声称质量水平的评定程序
GB/T 12962-1996 硅单晶
GB/T 12962-2005 硅单晶
GB/T 12962-2015 硅单晶
采用标准
ASTM F613-1982