GB/T 14140.1-1993
被代替
GB/T 4326-2006
被代替
国家标准
GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
GB/T 4326-2006 Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
基本信息
标准编号:
GB/T 4326-2006
标准类型:
国家级标准
标准状态:
被代替
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半金属及半导体材料分析方法
国际标准分类名称:
金属材料试验综合
发布日期:
2006-07-18
实施日期:
2006-11-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC)
页数:
20 页
适用范围
本标准规定的测量方法适用于测量非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。 本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓和磷化镓单晶材料进行了实验室测量，但该方法也可适用于其他半导体单晶材料，一般情况下，适用于室温电阻率高达 104Ω·cm 半导体单晶材料的测试。
研制信息
起草单位:
北京有色金属研究总院
起草人:
王彤涵