GB/T 1175-1997
被代替
GB/T 20510-2024
现行
国家标准
GB/T 20510-2024 氧化铟锡靶材
GB/T 20510-2024 Indium-tin oxide target
基本信息
标准编号:
GB/T 20510-2024
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
重金属及其合金
国际标准分类名称:
铅、锌和锡产品
发布日期:
2024-09-29
实施日期:
2025-04-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
页数:
16 页
适用范围
本文件规定了氧化铟锡靶材（以下简称ITO 靶材）的分类、技术要求、试验方法、检验规则及标
志、包装、运输与贮存、随行文件和订货单内容。
本文件适用于由In2O3 和SnO2 粉末按照一定比例混合，以常压烧结工艺生产的氧化铟锡靶材，是制
作透明导电薄膜的核心材料。
研制信息
起草单位:
先导电子科技股份有限公司、株洲冶炼集团股份有限公司、广西晶联光电材料有限责任公司、芜湖映日科技股份有限公司、中山智隆新材料科技有限公司、株洲火炬安泰新材料有限公司、深圳市中金岭南有色金属股份有限公司韶关冶炼厂、成都中建材光电材料有限公司、上海大学、广东欧莱高新材料股份有限公司、河北恒博新材料科技股份有限公司、广东先导稀材股份有限公司、福建阿石创新材料股份有限公司
起草人:
朱世会、朱刘、童培云、覃雪莲、黄誓成、曾墩风、葛春桥、蒋少英、左鸿毅、郑林、李喜峰、李鹏、李庆丰、陈文麟、余芳、朱赞芳、傅清波、黄作、王志强、李强、刘慧明、曾平生、张建华、王慧河、骆胜磊、陈钦忠、王凯凯、张科
替代以下标准
引用标准
GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法
GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
GB/T 3850-1983 致密烧结金属材料与硬质合金密度测定方法
GB/T 3850-2015 致密烧结金属材料与硬质合金 密度测定方法
GB/T 6569-1986 工程陶瓷弯曲强度试验方法
GB/T 6569-2006 精细陶瓷弯曲强度试验方法
GB/T 8170-1987 数值修约规则
GB/T 8170-2008 数值修约规则与极限数值的表示和判定
GB/T 13298-1991 金属显微组织检验方法
GB/T 13298-2015 金属显微组织检验方法
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GB/T 16535-2008 精细陶瓷线热膨胀系数试验方法 顶杆法
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