GB/T 13840-1992
废止
GB/T 5238-2009
被代替
国家标准
GB/T 5238-2009 锗单晶和锗单晶片
GB/T 5238-2009 Monocrystalline germanium and monocrystalline germanium slices
基本信息
标准编号:
GB/T 5238-2009
标准类型:
国家级标准
标准状态:
被代替
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
稀有分散金属及其合金
国际标准分类名称:
其他有色金属及其合金
发布日期:
2009-10-30
实施日期:
2010-06-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
页数:
7 页
适用范围
本标准规定了锗单晶和锗单晶片的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存、订货单(或合同)内容。
本标准适用于制作半导体器件、激光、外延衬底等用的锗单晶和锗单晶片。
研制信息
起草单位:
南京锗厂有限责任公司
起草人:
张莉萍、吴玉麟
替代以下标准
被以下标准替代
引用标准
GB/T 5254
GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
GB/T 2828.1-2003 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T 5252-1985 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法