GB/T 11093-1989
被代替
GB/T 5238-2019
现行
国家标准
GB/T 5238-2019 锗单晶和锗单晶片
GB/T 5238-2019 Monocrystalline germanium and monocrystalline germanium slices
基本信息
标准编号:
GB/T 5238-2019
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
元素半导体材料
国际标准分类名称:
半导体材料
发布日期:
2019-06-04
实施日期:
2020-05-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
页数:
9 页
适用范围
本标准规定了锗单晶和锗单晶片的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书及订货单(或合同)内容。
本标准适用于制备半导体器件、激光器组件、红外光学部件用的锗单晶和锗单晶片。
研制信息
起草单位:
中锗科技有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、广东先导稀材股份有限公司、有色金属技术经济研究院、北京合能阳光新能源技术有限公司
起草人:
柯尊斌、刘新军、惠峰、朱刘、尹士平、杨素心、肖宗镛
替代以下标准
引用标准
GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
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GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法
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GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法
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GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
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GB/T 14264-2009 半导体材料术语
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