GB/T 11093-1989
被代替
GB/T 2881-2008
被代替
国家标准
GB/T 2881-2008 工业硅
GB/T 2881-2008 Silicon metal
基本信息
标准编号:
GB/T 2881-2008
标准类型:
国家级标准
标准状态:
被代替
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半金属
国际标准分类名称:
半导体材料
发布日期:
2008-03-31
实施日期:
2008-09-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国有色金属标准化技术委员会
页数:
5 页
适用范围
本标准规定了工业硅的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存和订货单或合同内容。 本标准适用于矿热炉内炭质还原剂与硅石熔炼所生产的工业硅，主要用于配制合金、制取多晶硅和生产有机硅等。
研制信息
起草单位:
山西晋能集团有限公司、包头铝业股份有限公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所
起草人:
张耀、王志明、董志忠、董剑雄、罗忠臣、沈清华
替代以下标准
被以下标准替代
引用标准
GB/T 8170-1987 数值修约规则
GB/T 8170-2008 数值修约规则与极限数值的表示和判定
GB/T 14849.1-1993 工业硅化学分析方法 1,10-二氮杂菲分光光度法测定铁量
GB/T 14849.1-2007 工业硅化学分析方法 第1部分：铁含量的测定 1,10-二氮杂菲分光光度法
GB/T 14849.1-2020 工业硅化学分析方法 第1部分：铁含量的测定
GB/T 14849.2-1993 工业硅化学分析方法 铬天青-S分光光度法测定铝量
GB/T 14849.2-2007 工业硅化学分析方法 第2部分：铝含量的测定 铬天青-S分光光度法
GB/T 14849.3-1993 工业硅化学分析方法 钙量的测定
GB/T 14849.3-2007 工业硅化学分析方法 第3部分：钙含量的测定
GB/T 14849.3-2020 工业硅化学分析方法 第3部分：钙含量的测定
GB/T 14849.4-2008 工业硅化学分析方法 第4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量
GB/T 14849.4-2014 工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
GB/T 14849.5-2010 工业硅化学分析方法 第5部分：元素含量的测定 X射线荧光光谱法
GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
GB/T 14849.6-2014 工业硅化学分析方法 第6部分：碳含量的测定 红外吸收法
GB/T 14849.7-2015 工业硅化学分析方法 第7部分：磷含量的测定磷钼蓝分光光度法
GB/T 14849.8-2015 工业硅化学分析方法 第8部分：铜含量的测定原子吸收光谱法
GB/T 14849.9-2015 工业硅化学分析方法 第9部分：钛含量的测定 二安替吡啉甲烷分光光度法
GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法 第10部分：汞含量的测定原子荧光光谱法
GB/T 14849.11-2016 工业硅化学分析方法 第11部分：铬含量的测定 二苯碳酰二肼分光光度法