GB/T 13536-1992
被代替
GB/T 30110-2013
现行
国家标准
GB/T 30110-2013 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法
GB/T 30110-2013 Measuring methods of parameters of HgCdTe epilayers used for space infrared detectors
基本信息
标准编号:
GB/T 30110-2013
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半金属与半导体材料
国际标准分类名称:
航空航天用电气设备和系统
发布日期:
2013-12-17
实施日期:
2014-05-15
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 312)
页数:
34 页
适用范围
本标准规定了空间红外探测器用碲镉汞（HgCdTe）外延材料性能参数的测试方法和测试设备要求。
本标准适用于空间红外探测器用碲镉汞外延材料的参数测试，其他用途的碲镉汞外延材料参数的测试可参照使用。
研制信息
起草单位:
中国科学院上海技术物理研究所、中国电子科技集团第十一研究所、中国兵器工业集团昆明物理研究所
起草人:
杨建荣、周立庆、魏彦锋、折伟林、孙士文、陈路、王金义、何力
引用标准
GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法
GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
GJB 548B-2005
GJB 1485
GJB 2712