GB/T 11093-1989
被代替
GB/T 1555-2009
被代替
国家标准
GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法
GB/T 1555-2009 Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
基本信息
标准编号:
GB/T 1555-2009
标准类型:
国家级标准
标准状态:
被代替
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半金属与半导体材料
国际标准分类名称:
半导体材料
发布日期:
2009-10-30
实施日期:
2010-06-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
页数:
7 页
适用范围
本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。
本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的表面取向。
研制信息
起草单位:
峨嵋半导体材料厂
起草人:
杨旭、何兰英
替代以下标准
被以下标准替代
引用标准
GB/T 2481.1-1998 固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记 第1部分：粗磨粒F4～F220
GB/T 2481.2-1998 固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记 第2部分：微粉F230～F1200
GB/T 2481.2-2009 固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记 第2部分：微粉
GB/T 2481.2-2020 固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记 第2部分：微粉
GB/T 14264-1993 半导体材料术语
GB/T 14264-2009 半导体材料术语
GB/T 14264-2024 半导体材料术语
GB/T 2481.1-2025 固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记 第1部分：粗磨粒F4～F220