GB/T 34479-2017 现行 国家标准

GB/T 34479-2017 硅片字母数字标志规范

GB/T 34479-2017 Specification for alphanumeric marking of silicon wafers

发布日期: 2017-10-14 实施日期: 2018-07-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们

基本信息

标准编号: GB/T 34479-2017
标准类型: 国家级标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 半金属与半导体材料
国际标准分类名称: 半导体材料
发布日期: 2017-10-14
实施日期: 2018-07-01
发布单位/组织: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位: 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会 (SAC/TC 203/SC 2)
页数: 12 页

适用范围

本标准规定了硅片或其他半导体晶片上字母数字标志的编码规范,包括标志的形状和尺寸、字母数字代码的定义、要求和字母数字错码检验方法等。本标准适用于在硅片及其他晶片正面或背面的编码标志。注: 字母数字标志及关联信息存入数据库,可被简单的自动光学字符读数(OCR)仪或人工进行独立、快速识别,确保晶片制造商对晶片标记的一致性。

研制信息

起草单位:

有研半导体材料有限公司、浙江省硅材料质量检验中心

起草人:

张静、孙燕、边永智、楼春兰

字数: 22 千字 页数: 12 页

引用标准

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