GB/T 34893-2017 现行 国家标准

GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法

GB/T 34893-2017 Micro-electromechanical system technology—Measuring method for in-plane length measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer

发布日期: 2017-11-01 实施日期: 2018-05-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们

基本信息

标准编号: GB/T 34893-2017
标准类型: 国家级标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 微电路
国际标准分类名称: 集成电路、微电子学
发布日期: 2017-11-01
实施日期: 2018-05-01
发布单位/组织: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位: 全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336)
页数: 9 页

适用范围

本标准规定了基于光学干涉显微镜获取MEMS微结构表面形貌进行面内长度测量的方法。本标准适用于表面反射率不低于4%,宽深比不低于1∶10,且使用光学干涉显微镜能够获取形貌的MEMS微结构。

研制信息

起草单位:

天津大学、中机生产力促进中心、国家仪器仪表元器件质量监督检验中心、南京理工大学中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人:

胡晓东、郭彤、于振毅、李海斌、程红兵、裘安萍、崔波、朱悦

字数: 14 千字 页数: 9 页

引用标准

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