GB/T 11093-1989
被代替
GB/T 13387-2009
现行
国家标准
GB/T 13387-2009 硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法
GB/T 13387-2009 Test method for measuring flat length wafers of silicon and other electronic materials
基本信息
标准编号:
GB/T 13387-2009
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半金属与半导体材料
国际标准分类名称:
半导体材料
发布日期:
2009-10-30
实施日期:
2010-06-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
页数:
7 页
研制信息
起草单位:
有研半导体材料股份有限公司
起草人:
杜娟、孙燕、卢立延
替代以下标准
引用标准
采用标准
SEMI MF 671-0705