GB/T 11093-1989
被代替
YS/T 1160-2016
现行
行业标准-有色金属
YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
YS/T 1160-2016 Silicon powder-quantitative phase analysis—Determination of silicon dioxide content—Value K method of X-ray diffraction
基本信息
标准编号:
YS/T 1160-2016
标准类型:
行业标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
轻金属及其合金分析方法
国际标准分类名称:
半导体材料
发布日期:
2016-07-11
实施日期:
2017-01-01
发布单位/组织:
中华人民共和国工业和信息化部
归口单位:
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
页数:
6 页
适用范围
本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。
本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。
研制信息
起草单位:
昆明冶金研究院、广州有色金属研究院、国家有色金属及电子材料分析测试中心、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务有限公司
起草人:
李和平、胡耀东、袁威、金自钦、高珺、杨林、张晶、王书明、李扬、王钟颖、王建波