GB/T 11093-1989
被代替
GB/T 1555-1997
被代替
国家标准
GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
GB/T 1555-1997 Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
基本信息
标准编号:
GB/T 1555-1997
标准类型:
国家级标准
标准状态:
被代替
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
金属物理性能试验方法
国际标准分类名称:
半导体材料
发布日期:
1997-12-22
实施日期:
1998-08-01
发布单位/组织:
国家质量技术监督局
归口单位:
中国有色金属工业总公司标准计量研究所
页数:
12 页
研制信息
起草单位:
峨嵋半导体材料厂
起草人:
康自卫、刘文魁、王鸿高
替代以下标准
GB 1555-1979
GB 1556-1979
GB 5254-1985
GB 5255-1985
GB 8759-1988
被以下标准替代
引用标准
GB 2477-83
采用标准
ASTM F26-87a