GB/T 8760-2006 被代替 国家标准

GB/T 8760-2006 砷化镓单晶位错密度的测量方法

GB/T 8760-2006 Gallium arsenide single crystal—Determination of dislocation density

发布日期: 2006-07-18 实施日期: 2006-11-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们

基本信息

标准编号: GB/T 8760-2006
标准类型: 国家级标准
标准状态: 被代替
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 半金属及半导体材料分析方法
国际标准分类名称: 金属材料试验综合
发布日期: 2006-07-18
实施日期: 2006-11-01
发布单位/组织: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位: 全国有色金属标准化技术委员会
页数: 7 页

适用范围

本标准适用于位错密度为(0~100000)个/cm2 的砷化镓单晶的位错密度的测量。检测面为{111}面和{100}面。

研制信息

起草单位:

北京有色金属研究总院

起草人:

王彤涵

字数: 10 千字 页数: 7 页

替代以下标准

被以下标准替代

相关标准

联系我们