GB/T 4855-1984
Abolished
GB/T 44937.6-2025
Pending
National standards
GB/T 44937.6-2025 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 6:Measurement of conducted emissions—Magnetic probe method
GB/T 44937.6-2025 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 6:Measurement of conducted emissions—Magnetic probe method
Basic Information
Standard Code:
GB/T 44937.6-2025
Standard Type:
National standards
Standard Status:
Pending
is_force_gb:
no
CCS Name:
Semiconductor integrated circuits
ICS Name:
Integrated circuits, microelectronics
Publish Date:
2025-12-31
Implement Date:
2026-07-01
Publisher:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Technical Committee:
全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
Pages:
40 pages
Scope
本文件描述了使用微型磁场探头以非接触式的电流测量来评估集成电路（IC）引脚射频（RF）电流的方法。
该方法测量IC在150 kHz～1 GHz频率范围内产生的RF电流，适用于标准试验板上的单个或一组IC的测量，以用来表征和对比IC的RF电流。该方法也用于评估实际使用的印制电路板（PCB）上的单个或一组IC的电磁特性以减小发射。该方法称为“磁场探头法”。
Development Information
Drafting Units:
中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、浙江大学、上海市计量测试技术研究院、中山大学、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、健研检测集团有限公司、中汽研新能源汽车检验中心(天津)有限公司、北京中电华大电子设计有限责任公司、安徽省计量科学研究院、南京信息工程大学、中国民航大学、联想(北京)有限公司、东南大学、中国汽车工程研究院股份有限公司、中国信息通信研究院、中国合格评定国家认可中心、豪威北方集成电路有限公司、上海雷卯电子科技有限公司、中家院(北京)检测认证有限公司、深圳市品声科技有限公司
Drafting Persons:
付君、崔强、万发雨、方文啸、吴建飞、朱赛、邵伟恒、魏兴昌、叶畅、高杰、刘超、李金龙、雷黎丽、梁吉明、龙发明、钟嘉强、张洁、王少启、王健伟、吕飞燕、周香、黄雪梅、臧琦、刘佳、薛树成、胡光亮、杨统乾、陸振璘
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Referenced Standards
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IEC 61967-4
Adopt standards
IEC 61967-6:2008
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