GB/T 4855-1984
Abolished
GB/T 44937.3-2025
Pending
National standards
GB/T 44937.3-2025 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 3:Measurement of radiated emissions—Surface scan method
GB/T 44937.3-2025 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 3:Measurement of radiated emissions—Surface scan method
Basic Information
Standard Code:
GB/T 44937.3-2025
Standard Type:
National standards
Standard Status:
Pending
is_force_gb:
no
CCS Name:
Semiconductor integrated circuits
ICS Name:
Integrated circuits, microelectronics
Publish Date:
2025-12-31
Implement Date:
2026-07-01
Publisher:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Technical Committee:
全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
Pages:
32 pages
Scope
本文件描述了评估集成电路（IC）表面或附近的近电场、近磁场或近电磁场分量的测量方法。本测量方法旨在用于IC的架构分析，例如平面规划和配电优化。本测量方法也适用于测量扫描探头能够靠近的、安装在任何电路板上的IC。某些情况下，本测量方法不仅能扫描IC，还能扫描IC的环境。为了对比不同IC的表面扫描发射，宜使用IEC 61967-1规定的标准试验板。
本测量方法提供了IC上方的电场或磁场的近场发射图。测量探头的性能和探头定位系统的精度决定了测量的分辨率。本方法预期使用的最高频率为6 GHz。使用现有探头技术可以扩展上限频率范围，但这超出了本文件的范围。测量能在频域进行，也能在时域进行。
Development Information
Drafting Units:
中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、海研芯(青岛)微电子有限公司、扬芯科技(深圳)有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、中国合格评定国家认可中心、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、浙江大学、南京容向测试设备有限公司、北京航空航天大学、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、中山大学、深圳市中兴微电子技术有限公司、河南省电子信息产品质量检验技术研究院、江苏省质量和标准化研究院、中国信息通信研究院、南京师范大学、中家院(北京)检测认证有限公司、深圳硅山技术有限公司
Drafting Persons:
崔强、龙跃、付君、阎照文、褚瑞、方文啸、吴建飞、杨红波、王新才、朱赛、张学磊、陈梅双、刘佳、梁吉明、邵伟恒、魏兴昌、沈学其、雷黎丽、龙发明、谢利涛、杨博、王紫任、颜伟、王芳、韦寿德
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Referenced Standards
IEC 60050-131
IEC 60050-161
IEC 61967-1
Adopt standards
IEC TS 61967-3:2014
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