GB/T 3656-1983
Replaced
GB/T 1558-2023
Active
National standards
GB/T 1558-2023 Test method for substitutional carbon content in silicon by infrared absorption
GB/T 1558-2023 Test method for substitutional carbon content in silicon by infrared absorption
Basic Information
Standard Code:
GB/T 1558-2023
Standard Type:
National standards
Standard Status:
Active
is_force_gb:
no
CCS Name:
Analysis methods for semi-metallic and semiconductor materials
ICS Name:
\nMetal material testing
Publish Date:
2023-12-28
Implement Date:
2024-07-01
Publisher:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Technical Committee:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC 203/SC 2)
Pages:
8 pages
Scope
本文件描述了硅中代位碳原子含量的红外吸收测试方法。
本文件适用于电阻率大于3 Ω·cm的p型硅单晶片及电阻率大于1 Ω·cm的n型硅单晶片中代位碳原子含量的测试(室温下测试范围:5×1015 cm-3至硅中碳原子的最大固溶度;温度低于80 K时测试范围:不小于5×1014 cm-3)。
Development Information
Drafting Units:
中国电子科技集团公司第四十六研究所、青海芯测科技有限公司、天津中环领先材料技术有限公司、浙江金瑞泓科技股份公司、山东有研半导体材料有限公司、浙江海纳半导体股份有限公司、布鲁克(北京)科技有限公司、中国计量科学研究院、有色金属技术经济研究院有限责任公司、开化县检验检测研究院、四川永祥新能源有限公司、亚洲硅业(青海)股份有限公司、新疆新特新能材料检测中心有限公司、陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司、中电晶华(天津)半导体材料有限公司、浙江众晶电子有限公司、义乌力迈新材料有限公司、湖南三安半导体有限责任公司
Drafting Persons:
李静、何烜坤、刘立娜、李素青、索开南、马春喜、薛心禄、张雪囡、张海英、孙韫哲、王彦君、沈益军、赵跃、王军锋、李兰兰、邹剑秋、徐顺波、李寿琴、张宝顺、刘国霞、徐岩、李明达、陆勇、皮坤林、杜伟华
Replace the following standards
Referenced Standards
GB/T 8170-1987 Rules for rounding off of numberical values
GB/T 8170-2008 Rules of rounding off for numerical values & expression and judgement of limiting values
GB/T 8322-1987 Molecular absorption spectrometry—Terminology
GB/T 8322-2008 Molecular absorption spectrometry—Terminology
GB/T 14264-1993 Semiconductor materials—Terms and definitions
GB/T 14264-2009 Semiconductor materials—Terms and definitions
GB/T 14264-2024 Terminology of semiconductor materials
GB/T 29057-2012 Practice for evaluation of polocrystalline silicon rods by float-zone crystal growth and spectroscopy
GB/T 29057-2023 Practice for evaluation of polocrystalline silicon rods by float-zone crystal growth and spectroscopy
GB/T 35306-2017 Test method for carbon and oxygen content of single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry
GB/T 35306-2023 Determination of carbon and oxygen content in single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry method
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