SJ 21445-2018 现行 行业标准-电子

SJ 21445-2018 CdS-N 型红外/紫外双色探测用硫化镉单晶片规范

SJ 21445-2018 Specification for cadmium sulfide monocrystalline wafers of CdS-N used for infrared/ultraviolet two-color detector

发布日期: 2018-01-18 实施日期: 2018-05-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们
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基本信息

标准编号: SJ 21445-2018
标准类型: 行业标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: -
国际标准分类名称: -
发布日期: 2018-01-18
实施日期: 2018-05-01
归口单位: 工业和信息化部电子第四研究院
页数: 17 页

适用范围

本规范规定了CdS-N型红外/紫外双色探测用硫化镉单晶片的要求、质量保证规定、交货准备等。本规范适用于CdS-N型红外/紫外双色探测用硫化镉单晶片(以下简称硫化镉晶片)

研制信息

起草单位:

中国电子科技集团公司第四十六研究所

起草人:

张颖武、程红娟、齐海涛、杨丹丹、徐世海、窦瑛、郑风振、吴国艳

页数: 17 页

引用标准

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