YS/T 14-2015 现行 行业标准-有色金属

YS/T 14-2015 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法

YS/T 14-2015 Test method for thickness of heteroepitaxy layers and polycrystalline layers

发布日期: 2015-04-30 实施日期: 2015-10-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们

基本信息

标准编号: YS/T 14-2015
标准类型: 行业标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 金属物理性能试验方法
国际标准分类名称: 金属材料试验
发布日期: 2015-04-30
实施日期: 2015-10-01
发布单位/组织: 中华人民共和国工业和信息化部
归口单位: 全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
页数: 6 页

适用范围

本标准规定了异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法。
本标准适用于测量衬底与沉积层之间界面层厚度小于100 nm的异质外延层和硅多晶层的厚度测量范围为1 μm~100 μm。

研制信息

起草单位:

南京国盛电子有限公司、有研新材料股份有限公司、上海晶盟硅材料有限公司

起草人:

马林宝、杨帆、葛华、刘小青、孙燕、徐新华

字数: 8 千字 页数: 6 页

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