GB/T 11093-1989
被代替
GB/T 14863-1993
被代替
国家标准
GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
GB/T 14863-1993 Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
基本信息
标准编号:
GB/T 14863-1993
标准类型:
国家级标准
标准状态:
被代替
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体二极管
国际标准分类名称:
半导体材料
发布日期:
1993-12-30
实施日期:
1994-10-01
发布单位/组织:
国家技术监督局
页数:
11 页
研制信息
起草单位:
机械电子工业部46所和4所
起草人:
孙毅之、张若愚、谢重木、韩艳芬
被以下标准替代
引用标准
SJ 1550