GB/T 14264-1993
被代替
GB/T 4937.24-2025
即将实施
国家标准
GB/T 4937.24-2025 半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分：加速耐湿 无偏置强加速应力试验
GB/T 4937.24-2025 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 24:Accelerated moisture resistance—Unbiased HAST
基本信息
标准编号:
GB/T 4937.24-2025
标准类型:
国家级标准
标准状态:
即将实施
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2025-12-02
实施日期:
2026-07-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
16 页
适用范围
本文件用于评价非气密封装固态器件在潮湿环境下的可靠性。
本方法为强加速试验，是在没有冷凝的条件下通过温度和湿度加速潮气穿透外部保护材料（包封或密封)或外部保护材料和金属导体的交接面。本方法不施加偏置，以确保潜在的失效机理不能由偏置造成（例如电化学腐蚀)。
本试验用于确定封装内部的失效机理，是一种破坏性试验。
注：本方法是对1996年版IEC 60749中第3章的4c条的试验重新编写（无偏置电压)。
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
起草人:
包雷、佘茜玮、吴维丽、王瑞曾、陈雷、胡宁
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引用标准
IEC 60749-5
IEC 60749-33
采用标准
IEC 60749-24:2004